National Instruments presenta Virtual Automated Test Summit 2008

National Instruments annuncia la quinta edizione dell' Automated Test Summit, l'annuale evento virtuale, con sessioni tecniche di aggiornamento, dedicato alle strategie e tecnologie nel settore del test automatizzato, rivolto a tecnici e management delle principali aziende di elettronica. L’evento gratuito si svolgerà dal vivo martedì 5 giugno; grazie ad un ambiente espositivo virtuale, durante l’intera giornata sarà possibile assistere alla presentazione delle keynote (in lingua inglese), partecipare attivamente alle numerose sessioni tecniche e interagire dal vivo con gli espositori rappresentanti delle maggiori aziende di test. Sarà anche possibile richiedere informazioni attraverso una chat dal vivo con consulenti tecnici di National Instruments in lingua italiana. La 5 ° edizione propone contenuti rinnovati e una veste grafica totalmente nuova e accattivante. Tutte le risorse rese disponibili durante l’evento virtuale, rimarranno in rete per altri 90 giorni.

“Automated Test Summit 2008 di National Instruments riunisce in tempo reale un pubblico globale che appartiene ai diversi settori industriali associati al test elettronico”, afferma il vice presidente del dipartimento Ricerca e Sviluppo di Averna, Jean-Yves Allard. “In qualità di espositore, Averna può interagire live con i visitatori dello stand provenienti da quattro continenti contemporaneamente. Le presentazioni tecniche ricche di contenuti innovativi e le ultime novità del settore proposte dagli espositori fanno di Automated Test Summit un evento da non perdere – e senza bisogno di lasciare la propria scrivania."

Aziende leader mondiali di sistemi di test e misura del calibro di Averna, Cal-Bay, Intel, Microsoft e Tektronix parteciperanno all’evento per condividere competenze tecniche ed esperienze sul campo. Mike Santori, socio del centro Business and Technology di National Instruments, presenterà la keynote "Ottimizzare l'efficienza nel test". Gli argomenti dell’evento di quest’anno includono:

• Strategie per la progettazione di sistemi di test a costi ridotti • Ultime tendenze nella progettazione hardware • Ottimizzazione dei sistemi di test e incrementare la durata del proprio sistema di test • Confronto tra esperti di test engineering